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數(shù)字IC測(cè)試儀
GUT-6000B數(shù)字IC測(cè)試儀主要特點(diǎn)：
GUT-6000B一款臺(tái)式數(shù)字IC測(cè)試儀。為了自動(dòng)完成測(cè)試任務(wù)，GUT-6000B包含自動(dòng)搜索和循環(huán)測(cè)試等功能，以及自能化連續(xù)偵測(cè)壞損IC功能。自我診斷和過載保護(hù)功能使它更接近零維護(hù)，減少了用戶不必要的麻煩。
可測(cè)試1800多種常見的TTL和CMOS器件，真正在數(shù)字IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案。
循環(huán)測(cè)試，自動(dòng)搜尋，自我診斷。過載保護(hù)，測(cè)量1800種設(shè)備
支持54/74系列TTL，支持4000和4500系列CMOS
測(cè)試管腳：28-pin
GUT-6000B產(chǎn)品規(guī)格：
產(chǎn)品規(guī)格：
測(cè)試范圍 | |
| 54/74 系列 TTL |
4000 及 4500 系列 CMOS | |
DRIVE | |
量測(cè)種類 | |
| 約 1800 種 |
測(cè)試電壓 | |
| 2.5/3.0/3.3/5V DC |
測(cè)試時(shí)間 | |
| 高測(cè)試速度，平均 0.6 秒可完成一個(gè) IC |
使用電源 | |
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz |
尺寸及重量 | |
| 335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm |
GUT-6000B訂購信息：
使用手冊(cè)x1， 電源線x1
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